आफ्नो देश वा क्षेत्र छान्नुहोस्।

EnglishFrançaispolskiSlovenija한국의DeutschSvenskaSlovenskáMagyarországItaliaहिंदीрусскийTiếng ViệtSuomiespañolKongeriketPortuguêsภาษาไทยБългарски езикromânescČeštinaGaeilgeעִבְרִיתالعربيةPilipinoDanskMelayuIndonesiaHrvatskaفارسیNederland繁体中文Türk diliΕλλάδαRepublika e ShqipërisëአማርኛAzərbaycanEesti VabariikEuskera‎БеларусьíslenskaBosnaAfrikaansIsiXhosaisiZuluCambodiaსაქართველოҚазақшаAyitiHausaКыргыз тилиGalegoCatalàCorsaKurdîLatviešuພາສາລາວlietuviųLëtzebuergeschmalaɡasʲМакедонскиMaoriМонголулсবাংলা ভাষারမြန်မာनेपालीپښتوChicheŵaCрпскиSesothoසිංහලKiswahiliТоҷикӣاردوУкраїнаO'zbekગુજરાતીಕನ್ನಡkannaḍaதமிழ் மொழி

क्वालिटी वारेन्टी

भाग आईसी घटक द्वारा सम्मिलित

HD दृश्य निरीक्षण
रेशम स्क्रिन, कोडिंग, उच्च परिभाषा मिलाप बलहरू पत्ता लगाउने सहित उच्च परिभाषा उपस्थिति परीक्षण, जसले Oxidized र मूल भागहरू पहिचान गर्न सक्दछ।
अन्तिम समारोह परीक्षण
कार्यात्मक परीक्षणको क्रममा DUT बाट आउटपुट स of्केतहरूको भोल्टेज स्तर VOL र VOH सन्दर्भ स्तरहरू कार्यात्मक तुलनाकर्ताहरूसँग तुलना गरिन्छ। आउटपुट भोल्टेज नमूना परीक्षण परीक्षण चक्र भित्र सही बिन्दु नियन्त्रण गर्न प्रत्येक आउटपुट पिन को लागी एक आउटपुट स्ट्रोब तोकिन्छ।
खुला / छोटो परीक्षण
खुल्ला / शॉर्ट्स परीक्षण (यसलाई निरन्तरता वा सम्पर्क परीक्षण पनि भनिन्छ) प्रमाणित गर्दछ कि, एक उपकरण परीक्षणको समयमा, DUT मा सबै सिग्नल पिनहरूमा विद्युतीय सम्पर्क हुन्छ र कुनै सिग्नल पिन अर्को संकेत पिन वा पावर / ग्राउन्डमा सर्ट हुँदैन।
प्रोग्रामिंग समारोह परीक्षण
पढ्न, मेटाउने र कार्यक्रम समारोहको साथसाथै डिजिटल मेमोरी, माइक्रोकन्ट्रोलरहरू, MCU र यस्तै चिपहरूको लागि खाली चेकपरीक्षण गर्न।
X-RAY र ROHS परीक्षण
एक्स-रेले यो पुष्टि गर्न सक्दछ कि वेफर र तार बन्धन र मरण पत्र राम्रो छ वा छैन; ROHS परीक्षण फोटोवोल्टाइक उपकरणहरू द्वारा उत्पाद पिन र सोल्डर कोटिंगको मुख्य सामग्रीको वातावरणीय संरक्षण मार्फत हो।
रसायन विज्ञान विश्लेषण
प्रमाणित उत्पादन रासायनिक विश्लेषणबाट मूल हो

परीक्षण प्रयोगशाला दृश्यहरू